【
仪表网 研发快讯】近日，国家重点研发计划“基础科研条件与重大科学仪器设备研发”——“扫描式光场辐射度计”项目启动暨实施方案论证会在清华大学召开，金国藩院士、柴之芳院士等作为技术专家组成员出席会议。苏州计量测试院国显中心参与项目中课题3“扫描式光场辐射度计的工程化开发”。
会上，专家组对项目进行了论证，认为该项目有望突破传统远场测量限制，实施近场分布式高精度测量；项目技术路线、考核指标明确，课题设置合理；项目阶段目标和分工明确，计划安排合理；项目交流及检查机制健全，实施方案合理可行。专家组一致同意通过实施方案论证。
近年来，苏州计量测试院国显中心致力于科技创新，多次参加国家级、省部级科技项目，获得良好的成果并取得了有效的推广应用。
苏州计量测试院表示，此次参与国家重点研发计划，将进一步加强苏州计量测试院与大院大所的合作，培养苏州计量测试院人员的科技创新能力，提升苏州计量测试院的技术能力和影响力，促进产业高质量发展。
